模拟低空环境下FPGA的SEU测试系统结果分析 |
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作者姓名: | 顾泽凌 孟令军 任楷飞 |
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作者单位: | 中北大学电子测试技术国防科技重点实验室,太原,030051;中北大学电子测试技术国防科技重点实验室,太原,030051;中北大学电子测试技术国防科技重点实验室,太原,030051 |
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摘 要: | 为了探究在低空环境下SRAM型FPGA产生单粒子翻转事件与大气中高能粒子剂量的关系,设计了一种便携式测试系统。使用该系统在某地6个不同海拔的测试点对SRAM型FPGA进行单粒子翻转测试。某地平均海拔在3000~5000 m,可以很好地模拟低空飞行环境。通过测试试验,该系统获得了大量现场数据,使用Matlab对测试数据进行了分析。结合在某地的测试结果,从SRAM型FPGA的存储结构、单粒子翻转产生机理、测试系统的工作原理等方面入手,对该测试系统的科学性与实用性进行了验证分析。分析结果表明,该便携式测试系统科学有效,可为航空航天领域中SRAM型FPGA的选型与使用提供一种参考方式。
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关 键 词: | 低空环境 SRAM型FPGA 单粒子翻转 测试系统 结果分析 |
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