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| 薄膜厚度对La0.67Ca0.33MnO3/Nb-SrTiO3异质结整流特性及磁阻的影响 | |
| 作者姓名： | 杨彬 郎佩琳 熊昌民 赵永刚 |
| 作者单位： | 清华大学物理系,北京,100084;清华大学物理系,北京,100084;清华大学物理系,北京,100084;清华大学物理系,北京,100084 |
| 基金项目： | 国家自然科学基金，中国博士后科学基金 |
| 摘 要： | 利用脉冲激光沉积的方法,在Nb-1wt%:SrTiO3基片上分别生长了5 nm和50 nm的La0.67Ca0.33MnO3薄膜得到异质结.对该异质结电流-电压特性和磁阻的研究表明,50 nm厚的样品表现出良好的整流特性并且在外加1 T磁场的情况下无明显变化,而5nm厚的样品在低温下,整流特性发生变化,并且外加1 T磁场对其整流特性有明显影响,显示负的磁阻.通过考虑p～n结耗尽层的厚度,对观察到的实验现象进行了解释. |
| 关 键 词： | CMR p～n结 耗尽层 磁阻 |
| 修稿时间： | 2007-04-16 |
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