| 基于密度泛函紧束缚方法的Ge_(10)团簇Mülliken交叠电子布居分析与解离行为研究 |
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| 引用本文： | 吴丽君,张林,陈建金,沈龙海.基于密度泛函紧束缚方法的Ge_(10)团簇Mülliken交叠电子布居分析与解离行为研究[J].原子与分子物理学报,2021,38(4):042004. |
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| 作者姓名： | 吴丽君 张林 陈建金 沈龙海 |
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| 作者单位： | 沈阳理工大学,沈阳理工大学,沈阳理工大学,沈阳理工大学,东北大学 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金重大研究计划,省市自然科学基金 |
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| 摘 要： | 随着微电子工业和纳米技术的不断发展,对低维锗材料物理和化学性质的研究正成为研发新型微纳电子器件的基础.采用遗传算法和密度泛函紧束缚方法相结合计算得到Ge_(10)团簇最低能量构型.通过对该团簇内局域原子堆积结构和基于Mülliken电子布居的电子性质分析,发现团簇内两个原子间成键的强弱受原子间距和这两个原子各自近邻原子的状况影响.团簇内部原子上的电子会向团簇外部原子转移.团簇的解离会以分成两个团簇和单个原子的方式进行.当以团簇方式解离时,出现两个Ge_5团簇或一个Ge_3和一个Ge_7团簇.位于团簇小表面上方的原子会首先从团簇解离出来,随后八面体顶点上的原子发生解离.
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| 关 键 词： | 团簇，电子性质，密度泛函紧束缚，Mülliken交叠电子布居数 |
| 收稿时间： | 2020/5/22 0:00:00 |
| 修稿时间： | 2020/6/13 0:00:00 |
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