ICP—AES法直接测定纯氧化钆中十四个稀土杂质 |
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引用本文: | 张书秀,沈高扬.ICP—AES法直接测定纯氧化钆中十四个稀土杂质[J].中国稀土学报,1991,9(2):170-173. |
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作者姓名: | 张书秀 沈高扬 |
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作者单位: | 核工业部713矿测试中心,华东地质学院分析系 上饶 334112,89届毕业生 |
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摘 要: | 试验采用色散率较小的国产等离子体光谱仪直接测定纯氧化钆中14个微量稀土杂质。用正交设计对ICP工作参数进行了最优化选择;研究了基体效应、共存元素干扰及基体浓度对元素的固体检出限的影响;用经验系数法对受干扰的元素进行实验校正。
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关 键 词: | ICP-AES法 Gd2O3 稀土杂质 测定 |
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