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薄膜厚度对La0.85 Sr0.15 MnO3/TiO2异质Pn结的整流特性的影响
引用本文:李彤,裴志军,孙守梅,马兴兵,冯立营,张铭,严辉. 薄膜厚度对La0.85 Sr0.15 MnO3/TiO2异质Pn结的整流特性的影响[J]. 半导体学报, 2008, 29(9)
作者姓名:李彤  裴志军  孙守梅  马兴兵  冯立营  张铭  严辉
作者单位:1. 天津工程师范学院电子工程系,天津,300222;北京工业大学材料科学与工程学院薄膜实验室,北京,100022
2. 天津工程师范学院电子工程系,天津,300222
3. 北京工业大学材料科学与工程学院薄膜实验室,北京,100022
基金项目:天津工程师范学院校科研和教改项目
摘    要:采用磁控溅射法制备的La0.85Sr0.15 MnO3(100nm;50nm;17nm)/TiO2(70nm)异质pn结表现出明显的整流特性,其中La0.85Sr0.5MnO3(100nm)/TiO2异质pn结所呈现的整流特性相对较好,同时发现该整流特性在很宽的测量温度范围(80~320K)内存在.通过拟合发现,所有样品都呈现很大的串联电阻,并且串联电阻对整流特性有很大的影响.变温电流电压特性曲线显示随着测量温度的降低,结电压增大,这可能是由于随着测量温度的变化导致界面电子结构的变化.应该指出的是,La0.55Sr0.15MnO3/TiO1异质pn结结电阻随温度变化曲线显示出单层LSMO所特有的金属绝缘相变特性,并且在低温测量时,结电阻随着测量温度的降低而增大,这个变化趋势也同拟合后的串联电阻变化趋势相似.

关 键 词:异质结  整流  庞磁电阻

Effect Of Thickness on the Rectifying Properties of La0.85 Sr0.15 MnO3/TiO2 Heterostructures
Li Tong,Pei Zhijun,Sun Shoumei,Ma Xingbing,Feng Liying,Zhang Ming,Yan Hui. Effect Of Thickness on the Rectifying Properties of La0.85 Sr0.15 MnO3/TiO2 Heterostructures[J]. Chinese Journal of Semiconductors, 2008, 29(9)
Authors:Li Tong  Pei Zhijun  Sun Shoumei  Ma Xingbing  Feng Liying  Zhang Ming  Yan Hui
Abstract:
Keywords:
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