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垒层Si掺杂对AIGaInP/GaInP多量子阱性能的影响
引用本文:谭春华,范广涵,周天明,李述体,黄琨,雷勇. 垒层Si掺杂对AIGaInP/GaInP多量子阱性能的影响[J]. 半导体技术, 2005, 30(2): 10-12,20
作者姓名:谭春华  范广涵  周天明  李述体  黄琨  雷勇
作者单位:华南师范大学光电子材料与技术研究所,广州,510631;华南师范大学光电子材料与技术研究所,广州,510631;华南师范大学光电子材料与技术研究所,广州,510631;华南师范大学光电子材料与技术研究所,广州,510631;华南师范大学光电子材料与技术研究所,广州,510631;华南师范大学光电子材料与技术研究所,广州,510631
基金项目:广东省广州市科技攻关项目
摘    要:低压MOCVD方法生长了垒层掺Si与不掺Si的AlGaInP/GaInP多量子阱结构,运用X双晶衍射与光荧光技术研究了掺Si对量子阱性能的影响.测试结果表明垒层掺Si使量子阱的生长速度增加,掺Si量子阱的光荧光强度比未掺Si量子阱的光荧光强度增强了1 3倍.

关 键 词:X双晶衍射  M O C VD  量子阱  光荧光
文章编号:1003-353X(2004)02-0010-03

Effect of Si-Doping in Barrier Layers on the Characteristics of AlGaInP/GaInP Multiple Quantum Wells
TAN Chun-hua,FAN Guang-han,ZHOU Tian-ming,LI Shu-ti,HUANG Kun,LEI Yong. Effect of Si-Doping in Barrier Layers on the Characteristics of AlGaInP/GaInP Multiple Quantum Wells[J]. Semiconductor Technology, 2005, 30(2): 10-12,20
Authors:TAN Chun-hua  FAN Guang-han  ZHOU Tian-ming  LI Shu-ti  HUANG Kun  LEI Yong
Abstract:AlGaInP:Si/GaInP and AlGaInP/GaInP MQW structures were grown by LP-MOCVD. The effect of Si-doping on the characteristics of AlGalnP/GalnP MQW was studied by using double crystal X-ray diffraction and photoluminescence. The results show that the growth rate of MQW increases with Si-doping and the intensity from MQW with Si-doped is strong as 13 times as that of undoped MQW.
Keywords:double crystal X-ray diffraction  MOCVD  QW  photoluminescence
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