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可控硅的简易检测
引用本文:张金泉.可控硅的简易检测[J].家庭电子,1996(1).
作者姓名:张金泉
摘    要:可控硅元件使用前均需进行简易的检测,以确定其质量好坏。简易的检测方法如下: 1.检测阳、阴极间的正、反向电阻。可用万用表R×1k电阻档测试阳、阴极间的正、反向电阻,都应很大(指针基本不动),否则元件内部有短路或性能不良。

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