γ射线测距中散射光子影响因素的蒙特卡罗模拟

基于散射光子的γ射线测距技术，具有测距精度高、响应速度快、可靠性高、体积小、重量轻等特点，适用于在苛刻空间环境中实现近距离高精度的高度测量。本文采用蒙特卡罗程序MCNP建立模型，模拟不同条件下散射光子的能量、强度的变化规律，分析了探测距离、源 探距离、γ射线能量、靶目标厚度以及靶目标材料的变化对反散射峰光子能量与强度的影响，得出以下结论：反散射峰光子能量与靶目标厚度（>7 cm）、靶目标材料无关，与γ射线能量、源 探距离正相关，与探测距离负相关；反散射峰光子强度与靶目标厚度（>7 cm）无关，与探测距离正相关，与γ射线能量、源 探距离、靶目标材料负相关。对于不同靶目标材料，模拟计算的反散射峰光子能量分布区间与理论计算结果一致，证实本文γ射线散射光子测距技术的仿真方法可行、结果可信。