| 线阵CCD测量干涉条纹抽样问题的讨论 |
| |
| 引用本文： | 董伟,李瑞. 线阵CCD测量干涉条纹抽样问题的讨论[J]. 计算机测量与控制, 2002, 10(6): 371-372 |
| |
| 作者姓名： | 董伟 李瑞 |
| |
| 作者单位： | 石家庄军械工程学院,河北,石家庄,050003 |
| |
| 摘 要： | 对利用线阵CCD测量干涉条件中，由于CCD本身的分离性和象元的积分效应，以及干涉条纹（余弦信号）抽样的特殊性，深入讨论了“如何确定可测量条纹最大空间频率”、“象元积分效应对抽样的影响”和“象元相位匹配对条纹对比度的影响”等3个问题，结果对于利用线阵CCD测量干涉条纹具有一般性的指导意义。
|
| 关 键 词： | 线阵CCD 测量 干涉条纹 抽样问题 |
| 文章编号： | 1671-4598(2002)06-0371-02 |
| 修稿时间： | 2001-11-21 |
A Discussion About the Sampling Problem of Using Linear CCD to Measure the Interference Fringe |
| |
| DONG Wei,LI Rui. A Discussion About the Sampling Problem of Using Linear CCD to Measure the Interference Fringe[J]. Computer Measurement & Control, 2002, 10(6): 371-372 |
| |
| Authors: | DONG Wei LI Rui |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | CCD interference fringe sampling theory |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ |
|
