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双沟平面掩埋结构SLD的液相外延生长及漏电分析
引用本文:段利华,方亮,周勇,周雪梅,韩伟峰,罗庆春,黄茂.双沟平面掩埋结构SLD的液相外延生长及漏电分析[J].半导体光电,2012,33(3):342-345.
作者姓名:段利华  方亮  周勇  周雪梅  韩伟峰  罗庆春  黄茂
作者单位:重庆大学物理学院应用物理系,重庆400044 重庆光电技术研究所,重庆400060;重庆大学物理学院应用物理系,重庆,400044;重庆光电技术研究所,重庆,400060
摘    要:对液相外延生长的双沟平面掩埋异质结(DCPBH)结构超辐射发光二极管(SLD)双沟内漏电现象进行了理论分析与定量计算。在此基础上通过优化外延结构设计与液相生长参数,得到了电流限制较理想的DCPBH结构。

关 键 词:双沟平面掩埋异质结  液相外延  漏电流

Analysis on Current Leakage in DCPBH-SLD Grown by LPE
DUAN Lihua,FANG Liang,ZHOU Yong,ZHOU Xuemei,HAN Weifeng,LUO Qingchun,HUANG Mao.Analysis on Current Leakage in DCPBH-SLD Grown by LPE[J].Semiconductor Optoelectronics,2012,33(3):342-345.
Authors:DUAN Lihua  FANG Liang  ZHOU Yong  ZHOU Xuemei  HAN Weifeng  LUO Qingchun  HUANG Mao
Affiliation:1.Dept.of Applied Physics,College of Physics,Chongqing University,Chongqing 400044,CHN; 2.Chongqing Optoelectronics Research Institute,Chongqing 400060,CHN)
Abstract:The mechanism of current leakage in Double Channel Planar Buried Heterrostructure(DCPBH) superluminescent diode(SLD) with p-n-p-n current blocking structure is theoretical analyzed and quantitative calculated.The ideal lateral current confinement is obtained by optimizing the structure and growth conditions of LPE.
Keywords:DCPBH  LPE  current leakage
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