穆斯堡尔谱测量的多丝正比室探测器

穆斯堡尔谱的测量通常有透射法和背散射法,使用的探测器有闪烁计数器和正比计数器等。如常用~(57)Co作穆斯堡尔源时,透射法是用闪烁计数器或正比计数器测量无反冲吸收后被吸收体~957)Fe核放出的X射线。背散射法是用正比计数器,可测量放出的K壳层X射线或内转换电子,测量背散射穆斯堡尔谱是研究固体表面物理性能的有用方法,近几年来发展很快,应用在簿膜的结构和性质的研究,表面化学和冶金、扩散、腐蚀和离子注入等诸方面的研究。