| 针对AES密钥扩展的电压故障注入攻击 |
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| 引用本文： | 段晓毅,田丽娜,张磊,王建新,李秀滢,张恺健. 针对AES密钥扩展的电压故障注入攻击[J]. 计算机工程, 2019, 45(9): 112-118 |
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| 作者姓名： | 段晓毅 田丽娜 张磊 王建新 李秀滢 张恺健 |
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| 作者单位： | 北京电子科技学院电子信息工程系,北京,100070;北京电子科技学院电子信息工程系,北京,100070;北京电子科技学院电子信息工程系,北京,100070;北京电子科技学院电子信息工程系,北京,100070;北京电子科技学院电子信息工程系,北京,100070;北京电子科技学院电子信息工程系,北京,100070 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金;中央高校基本科研业务费专项;中央高校基本科研业务费专项 |
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| 摘 要： | 针对高级加密标准(AES)算法,提出一种简单高效的故障注入攻击方法。通过瞬时降低密码芯片供电电压产生低压毛刺,使芯片在密钥扩展函数中进行密钥赋值时跳过赋值循环语句,造成密钥赋值错误,从而缩短参与运算密钥的未知字节长度。结合注入故障后输出的错误密文,可通过穷举猜测的方式恢复初始密钥未知字节。攻击测试结果表明,通过该方法执行一次有效故障注入攻击能得到4字节长度初始密钥,即对于128位AES算法,攻击者仅需猜测4×2~(32)次就能到初始密钥。
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| 关 键 词： | 故障注入 电压 密钥扩展 循环语句 密文 |
Voltage Fault Injection Attack on Key Expansion of AES |
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