首页 | 官方网站   微博 | 高级检索  
     

特性阻抗的模拟设计与测试
作者姓名:何思军
作者单位:深圳市五洲电路集团有限公司
摘    要:本文主要通过对不同尺寸阻抗试样及不同大小阻抗试样的阻抗测试TDR迹线的分析,对特性阻抗模拟设计试样的尺寸及阻抗大小与Polar CITS测试系统的测试区域的选取之间的关系进行阐述,以便为特性阻抗模拟试样的设计与测试提供参考。

关 键 词:阻抗试样 TDR迹线 探针 测试区域 测试 边界
本文献已被 维普 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司    京ICP备09084417号-23

京公网安备 11010802026262号