| 用于超快脉冲中子测量的条纹像机系统 |
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| 引用本文： | 杨建伦,王根兴,温树槐,朱启华,刘忠礼,唐正元,杨洪琼,郭玉芝.用于超快脉冲中子测量的条纹像机系统[J].激光与光电子学进展,1999(Z1). |
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| 作者姓名： | 杨建伦 王根兴 温树槐 朱启华 刘忠礼 唐正元 杨洪琼 郭玉芝 |
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| 作者单位： | 西南核物理与化学研究所!成都，610003，西南核物理与化学研究所!成都，610003，西南核物理与化学研究所!成都，610003，西南核物理与化学研究所!成都，610003，西南核物理与化学研究所!成都，610003，西南核物理与化学研究所!成都，610003，西南核物理与化学研究所!成都，610003，西南核物理 |
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| 基金项目： | 国家高技术863计划惯性约束聚变领域资助 |
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| 摘 要： | 为了测量ICF内爆实验聚变反应的时间过程，建立了计算机MonteCarlo光线追迹程序进行光学辅助设计，研制了主要由BC422塑料闪烁体、消色差透镜组、皮秒条纹像机和制冷增强CCD组成的超快脉冲中子探测系统，其时间响应＜40ps。闪烁体与靶丸的最短距离可达2cm，测量下限中子产额为～108。
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| 关 键 词： | 惯性约束聚变 中子探测器 条纹像机 光线追迹 |
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