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端子模跳屑原因分析及解决措施
引用本文:欧阳波仪.端子模跳屑原因分析及解决措施[J].模具制造,2005(11):26-28.
作者姓名:欧阳波仪
作者单位:株洲职业技术学院,湖南,株洲,412002
摘    要:分析了端子模跳屑产生的不同原因,归纳总结了各种解决措施的优缺点,以及各自的应用场合。对端子模设计、制造有较强的指导意义。

关 键 词:跳屑  受力分析  产生原因  解决措施  原因分析  子模  归纳总结

Reason Analysis and Solving Method to Outside Chip of Terminal Die
OuYang Boyi.Reason Analysis and Solving Method to Outside Chip of Terminal Die[J].Die & Mould Manufacture,2005(11):26-28.
Authors:OuYang Boyi
Abstract:Different reasons caused outside chip o and disadvantages summarized, which of various solving can be a guidance steps and its f terminal die are analyzed, the advantages applicable circumstance are classified and to terminal die design and manufacture.
Keywords:outside chip  load analysis  caused reason  solving method
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