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基于线阵CCD投影法的插针外径测量分选系统
引用本文:来俊,李慧鹏,张春富,王军,唐文彦.基于线阵CCD投影法的插针外径测量分选系统[J].计量技术,2006(11):6-8.
作者姓名:来俊  李慧鹏  张春富  王军  唐文彦
作者单位:哈尔滨工业大学,哈尔滨,150001
摘    要:提出了一种基于线阵CCD投影法的插针外径自动测量分选系统。文章详细论述了线阵CCD投影法的工作原理和自动测量分选系统的结构设计。实验结果表明,该系统具有精度高、稳定性好等特点。插针直径测量范围为0·3~1·0mm,测量准确度可达3μm左右,测量分选速度大于70个/min。

关 键 词:线阵CCD  插针  直径测量  分选

Contact Size Measurement and Sorting System Based on Linear Array CCD Projection Method
Lai Jun,Li Huipeng,Zhang Chunfu,Wang Jun,Tang Wenyan.Contact Size Measurement and Sorting System Based on Linear Array CCD Projection Method[J].Measurement Technique,2006(11):6-8.
Authors:Lai Jun  Li Huipeng  Zhang Chunfu  Wang Jun  Tang Wenyan
Abstract:
Keywords:
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