用正电子湮没研究CaO掺杂的CeO2氧离子导体

测量了不同ＣａＯ掺杂量的ＣｅＯ２氧离子导体（ＣａＯ２）１－ｘ（ＣｅＯ２）ｘ的正电子寿命谱。发现正电子寿命随ｘ的增加（ｘ从０．０５到０．５）先增大后减小，峰值出现在ｘ＝０．１２附近。从掺杂离子与缺陷的相互作用所造成的缺陷组态变化对该现象进行了解释。