Al2O3掺杂对Cu3Ti2Ta2O12陶瓷微观结构及介电性能的影响

采用固相反应法制备了Al₂O₃掺杂Cu₃Ti₂Ta₂O₁₂ (CTTAO)陶瓷,研究了其晶相组成、微观结构、复阻抗及介电性能。研究结果表明：CTTAO陶瓷样品为立方类钙钛矿结构,空间群Im3。随着Al₂O₃掺量的增加,样品的平均晶粒尺寸、介电系数和介电损耗均先减小后增大。结合复阻抗谱分析表明,CTTAO陶瓷具有半导性晶粒和绝缘性晶界构成的非均匀性微观结构,低频下的介电损耗主要由晶界电阻决定,利用内部阻挡层效应(IBLC)和MaxwellWagner极化弛豫模型,可解释CTTAO的巨介电响应。