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| V带的可靠性增长 | |
| 作者姓名： | 李玉盛 |
| 作者单位： | 渝洲大学 |
| 摘 要： | Ｖ带的可靠性增长渝洲大学李玉盛一、前言任何产品在设计研制初期，总不可避免地会受到诸如设计缺陷，材料不足等各种随机因素的影响，使产品难以达到可靠性目标值。因此需要通过试验—分析—改进—再试验，不断地提高产品可靠性。它的增长过程如图１所示。二、可靠性增长... |
| 关 键 词： | 细纱机 V带 可靠性增长 |
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