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LC2294处理器片内A/D转换器测试
引用本文:林楠,丁宁. LC2294处理器片内A/D转换器测试[J]. 微处理机, 2014, 0(4): 5-7
作者姓名:林楠  丁宁
作者单位:中国电子科技集团公司第四十七研究所,沈阳110032
摘    要:介绍了通过对 LC2294处理器片内 A /D 转换器测试,构建简单可靠,通用性好的自动测试系统,提出了一种软硬件结合的 A /D 测试方法,给出了测试系统原理图,并详细描述了软件实现过程。

关 键 词:LC2294处理器  A  D转换器测试  A  D测试方法

Parameters Test Technology of A/D Converter of LC2294 Microcontroller
LIN Nan,DING Ning. Parameters Test Technology of A/D Converter of LC2294 Microcontroller[J]. Microprocessors, 2014, 0(4): 5-7
Authors:LIN Nan  DING Ning
Affiliation:( The 47th Research Institute of China Electronics Technology Group Corporation ,Shenyang 110032, China)
Abstract:This paper introduces the auto -test system of the A /D converter test of LC2294 microcontroller with simple reliable implementation,puts forward a testing method combining with software and hardware,and gives an implementation principle diagram.The procedure of implementation of the software is described in detail.
Keywords:LC2294 Mierocontroller  A/D Converter Test  Testing Method of A/D Converter
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