首页 | 官方网站   微博 | 高级检索  
     

碳化硅MOSFET器件特性的研究
引用本文:钟志远,秦海鸿,朱梓悦,袁源,余忠磊.碳化硅MOSFET器件特性的研究[J].电气自动化,2015,37(3):44-45,67.
作者姓名:钟志远  秦海鸿  朱梓悦  袁源  余忠磊
作者单位:南京航空航天大学自动化学院电气工程系,江苏南京,210016
基金项目:教育部博士点基金资助项目(20123218120017);中央高校基本科研业务费专项资金;南京航空航天大学研究生创新基地(实验室)开放基金资助(kfjj20130213)
摘    要:由于材料性能的不同,碳化硅MOSFET与硅MOSFET在电气特性方面存在一些显著差异,不能简单地将硅MOSFET直接替换为碳化硅MOSFET。为了准确地掌握碳化硅MOSFET在实际应用中的工作特性,利用双脉冲测试电路对器件特性进行了研究,重点对通态特性和开关特性进行了分析、总结,实验结果可对基于碳化硅MOSFET的变换器优化设计提供指导。

关 键 词:碳化硅  双脉冲测试  MOSFET  开关特性  通态特性

A Study on the Characteristics of SiC MOSFET Devices
ZHONG Zhi-yuan , QIN Hai-hong , ZHU Zi-yue , YUAN Yuan , YU Zhong-lei.A Study on the Characteristics of SiC MOSFET Devices[J].Electrical Automation,2015,37(3):44-45,67.
Authors:ZHONG Zhi-yuan  QIN Hai-hong  ZHU Zi-yue  YUAN Yuan  YU Zhong-lei
Affiliation:ZHONG Zhi-yuan;QIN Hai-hong;ZHU Zi-yue;YUAN Yuan;YU Zhong-lei;Department of Electrical Engineering of Automation College,Nanjing University of Aeronautics and Astronautics;
Abstract:
Keywords:SiC  double pulse test  MOSFET  switching characteristic  on-state characteristic
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司    京ICP备09084417号-23

京公网安备 11010802026262号