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高频感应-红外吸收法测定碳化硅中的SiC含量
引用本文:商英,王彬果,赵靖,徐静.高频感应-红外吸收法测定碳化硅中的SiC含量[J].广东化工,2011,38(4).
作者姓名:商英  王彬果  赵靖  徐静
作者单位:河北钢铁集团邯钢有限公司,技术中心,河北,邯郸,056015
摘    要:文章采用碳化硅和基准碳酸钙混合配耐成不同含量的标准样品,对高频红外碳硫分析仪进行多点校正,通过测定碳化硅中的碳含量,换算得到碳化硅含量.该方法简便、快速,可适用于测定50%~90%范围的碳化硅含量.

关 键 词:碳化硅  红外吸收法  合成标准样品  线性校正

Determination of SiC Content in the Silicon Carbide by High Frequency-infrared Absorption Method
Shang Ying,Wang Binguo,Zhao Jing,Xu Jing.Determination of SiC Content in the Silicon Carbide by High Frequency-infrared Absorption Method[J].Guangdong Chemical Industry,2011,38(4).
Authors:Shang Ying  Wang Binguo  Zhao Jing  Xu Jing
Abstract:
Keywords:
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