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用FEM/FIM研究单壁碳纳米管束
引用本文:金新喜,张兆祥,张耿民,侯士敏,赵兴钰,刘惟敏,薛增泉,顾镇南.用FEM/FIM研究单壁碳纳米管束[J].真空科学与技术,2003,23(1):1-4.
作者姓名:金新喜  张兆祥  张耿民  侯士敏  赵兴钰  刘惟敏  薛增泉  顾镇南
作者单位:[1]北京大学电子学系北京100871 [2]北京大学化学与分子工程学院北京100871
摘    要:利用范氏力将单壁碳纳米管样品组装到钨针尖上,用FEM/FIM对同一碳纳米管样品用热处理方法和场脱附方法进行了研究。场离子显微镜是具有原子级分辨能力的尖端表面分析工具,由场离子像推测这次组装的样品是由三根单壁碳纳米管突起组成的碳纳米管束。清洁碳纳米管束样品的场发射像和场离子像有极好的对应关系。场脱附后的碳纳米管束的场发射特性较好地符合Fowler-Nordheim场发射模型。通过比较碳纳米管束吸附态和热处理后以及场脱附后的Fowler-Nordheim曲线的斜率变化,得出碳纳米管束样品逸出功的变化,再结合场发射像的变化推断出场脱附与热处理结合是一种较理想的获得清洁碳纳米管表面的方法。

关 键 词:单壁碳纳米管束  FEM/FIM  场发射显微镜  场离子显微镜  热处理  场脱附
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