| 微电子系统的静电放电抗扰度实验方法研究 |
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| 引用本文： | 刘尚合,徐晓英,贺其元.微电子系统的静电放电抗扰度实验方法研究[J].北京理工大学学报,2005,25(Z1):72-76. |
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| 作者姓名： | 刘尚合 徐晓英 贺其元 |
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| 作者单位： | 1. 军械工程学院,静电与电磁防护研究所,河北,石家庄,050003
2. 武汉理工大学,静电技术研究所,湖北,武汉,430030 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金
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国家自然科学基金 |
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| 摘 要： | 对瑞士Schaffner公司制造的NSG435型ESD模拟器和日本Noiseken公司制造的ESS-200AX型ESD模拟器进行了比较研究.实验发现国际电工委员会IEC61000-4-2标准规定的静电放电抗扰度实验方法及ESD模拟器存在某些问题.针对这些问题并结合许多学者研究的有关结论,研制了一种更符合实际需要的ESD抗扰度检测实验方法和实验装置,利用新研制的实验装置,按照接触式电放电和空气放电两种方式对电子设备形成的干扰(耦合)电压进行了实验研究.
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| 关 键 词： | 静电放电 抗扰度实验 IEC标准 实验方法 微电子系统 静电放电抗扰度 实验方法 研究 System Testing Method Immunity 耦合 干扰 电子设备 空气放电 接触式 利用 实验装置 检测 学者 结合 问题 存在 标准 |
| 文章编号： | 1001-0645(2005)增刊-072-05 |
| 修稿时间： | 2005年6月20日 |
Study of ESD Immunity Testing Method for Micro-Electronic System |
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| LIU Shang-he,XU Xiao-ying,HE Qi-yuan.Study of ESD Immunity Testing Method for Micro-Electronic System[J].Journal of Beijing Institute of Technology(Natural Science Edition),2005,25(Z1):72-76. |
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| Authors: | LIU Shang-he XU Xiao-ying HE Qi-yuan |
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| Abstract: | The comparison between Schaffner NSG435 ESD simulator made in Swiss and Noiseken ESS-200AX ESD simulator made in Japan has been studied. It is found that there are some problems in the ESD immunity testing method specified in IEC61000-4-2 by International Electro-Technical Commission and the simulator used in the test. Aiming at these problems and combining many scholar's conclusions, a set of ESD immunity testing method and installment which are more up to the actual mustard have been developed. The induced(coupled) voltages on the electronic equipment by air discharge and contact discharge are studied with the new developed testing set-up. |
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| Keywords: | ESD immunity test JEC standard test method |
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