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| 存储测试信号统计特性分析 | |
| 作者姓名： | 贾熹滨 窦永彪 张文栋 刘俊 |
| 作者单位： | 华北工学院，华北工学院，华北工学院，华北工学院 太原 030O51，太原 030O51，太原 030O51，太原 030O51 |
| 摘 要： | 本文主要对几种典型的存储测试信号的差分布加以统计分析,以期找出其统计分布规律,从而在此基础上建立其数学模型,为进一步对其进行压缩编码提供依据。 |
| 关 键 词： | 测试信号 统计特性 压缩编码 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |
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