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| 光调制直接重写磁光双层耦合膜磁基本特性的一种解耦方法 | |
| 作者姓名： | 朱全庆 谭立国 李震 李佐宜 蔡长波 邱进军 |
| 作者单位： | 华中理工大学电子科学与技术系!武汉，430074，华中理工大学电子科学与技术系!武汉，430074，华中理工大学电子科学与技术系!武汉，430074，华中理工大学电子科学与技术系!武汉，430074，华中理工大学电子科学与技术系!武汉，430074，华中理工大学电子科学与技术系!武汉，430074 |
| 摘 要： | 采用FFT方法对光调制直接重写磁光双层耦合膜的磁基本特性进行解耦，得到各单层薄膜在耦合状态下的特性，并用于分析计算磁光双层耦合膜之间的层间耦合能。 |
| 关 键 词： | 磁光双层耦合膜 FFT 振动样品磁强计 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |
