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TMX2000型原子力显微镜(AFM)力的标定
引用本文:高芒来,聂时春,张嗣伟.TMX2000型原子力显微镜(AFM)力的标定[J].仪器仪表学报,2005,26(5):528-530.
作者姓名:高芒来  聂时春  张嗣伟
作者单位:1. 中国石油大学化工学院,北京,102249
2. 中国石化长城润滑油集团有限公司,北京,100085
3. 中国石油大学机电学院,北京,102249
基金项目:国家自然科学基金(50175076),重质油加工国家重点实验室开放课题(2002-05)资助项目。
摘    要:根据针尖的形状和各项参数进行了TMX2000型原子力显微镜载荷、粘附力、法向力、横向力及其摩擦力的标定。其标定结果为载荷Fl=0.073×(Ilm-Il0)/Sn×N·m-1,横向力Ft=0.156×It/Sn×N·m-1,摩擦力Ff=0.078×(It -It-)/Sn×N·m-1

关 键 词:原子力显微镜(AFM)  标定  载荷  法向力  横向力  摩擦力
修稿时间:2003年9月1日

Force Calibration of TMX 2000 Atomic Force Microscopy
Gao Manglai,Nie Shichun,ZHANG Siwei.Force Calibration of TMX 2000 Atomic Force Microscopy[J].Chinese Journal of Scientific Instrument,2005,26(5):528-530.
Authors:Gao Manglai  Nie Shichun  ZHANG Siwei
Affiliation:Gao Manglai1 Nie Shichun2 Zhang Siwei3 1
Abstract:
Keywords:Atomic force microscope(AFM) Calibration Loading force Normal force Lateral force Frictional force
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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