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分类号
杂志ISSN号
提高金属——玻璃封装集成电路外壳的可靠性途径
作者姓名:
朱奇农 马莒生
作者单位:
清华大学材料科学与工程系 北京100084
摘 要:
本文简单地介绍了金属--玻璃封装的集成电路外壳的两种失效原因--“断腿”和慢性漏气的机理,在此基础上,结合本研究小组的工作实践,从原材料的预备,封装外壳的生产工艺及其使用等三方面提出了一些提高金属--玻璃封装的集成电路外壳可靠性的方法。
关 键 词:
集成电路 封装 外壳 可靠性 金属-玻璃
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