|
|||||
|
|
| 浅谈测试系统的抗干扰技术 | |
| 引用本文： | 柴春吉.浅谈测试系统的抗干扰技术[J].机电工程技术,2004,33(4):14-15. |
| 作者姓名： | 柴春吉 |
| 作者单位： | 山西运城市农机局,山西,运城,044000 |
| 摘 要： | 本文从干扰形成的三要素入手,为提高测试系统的抗干扰能力提出了各种抗干扰的具体措施和方法。 |
| 关 键 词： | 干扰源 干扰途径 测试系统 |
| 文章编号： | 1009-9492(2004)04-0014-02 |
| 修稿时间： | 2003年10月13 |
Interference-free Techniques of Test System |
|
| Abstract: | |
| Keywords: | |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ | |
