低速Ar q+(q=7—14)离子入射Au表面激发的X射线谱

研究了高电荷态离子40Arq+(q=7—14)轰击金属Au表面产生的特征X射线谱。 实验结果表明， 在弱束流（nA量级）的情况下， 对于动能相同的入射离子， 当电荷态比较高（q=11）时， 便能有效地激发靶原子的特征X射线， 单离子的X射线产额高达10-8量级。 分析结果显示， 入射离子的势能、 动能和这种相互作用特有的镜像相互作用势能沉积在靶表面， 使靶原子内壳层电子激发和电离， 形成空穴和产生外壳层电子填充空穴辐射特征X射线，特征X射线的产额随入射离子的势能（电荷态）的增加而增加。 The Au atomic Mα characteristic X ray spectrum has been measured for the slow highly charged ions Arq+ (q= 7—14) impacting on Au surface. The result shows that as long as the charge state of projectile is higher（q=11）， the characteristic X rays of heavy atomic can be effectively excited even though the ionic beam is very weak(nA magnitude)， and the single ionic X ray yield is in the order of 10-8 and increases with potential energies of projectiles.