首页 | 官方网站   微博 | 高级检索  
     

场发射硅锥阵列的干法制备与研究
引用本文:王芸,徐东,吴茂松,王莉,钱开友,叶枝灿,蔡炳初.场发射硅锥阵列的干法制备与研究[J].微细加工技术,2006(1):56-60.
作者姓名:王芸  徐东  吴茂松  王莉  钱开友  叶枝灿  蔡炳初
作者单位:1. 上海交通大学,微纳米科学技术研究院,薄膜与微细技术教育部重点实验室,微米/纳米加工技术国家级重点实验室,上海,200030
2. Honeywell公司上海传感器实验室,上海,200030
摘    要:阐述了用于场发射压力传感器发射阴极的硅锥阵列的干法制备工艺,用反应离子刻蚀(RIE)的方法在76 mm(3 in.)的低阻硅片上制备出52个均匀分布的10×12的硅锥阵列,得到了曲率半径为25 nm~35 nm且具有良好一致性的尖锥。当阵列的场发射起始电压为1.4 V/μm,场强为9.2 V/μm时,单个硅锥的发射电流达到8.3 nA,并且性能较为稳定。

关 键 词:硅锥  干法刻蚀  场发射
文章编号:1003-8213(2006)01-0056-05
修稿时间:2005年6月10日

Fabrication of Silicon Tip Array in Field Emission Pressure Sensor by Reactive Ion Etching
WANG Yun,XU Dong,WU Mao-song,WANG Li,QIAN Kai-you,YE Zhi-can,CAI Bing-chu.Fabrication of Silicon Tip Array in Field Emission Pressure Sensor by Reactive Ion Etching[J].Microfabrication Technology,2006(1):56-60.
Authors:WANG Yun  XU Dong  WU Mao-song  WANG Li  QIAN Kai-you  YE Zhi-can  CAI Bing-chu
Abstract:
Keywords:RIE
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司    京ICP备09084417号-23

京公网安备 11010802026262号