|
|||||
|
|
| 平晶干涉图象的识别 | |
| 引用本文： | 程维中.平晶干涉图象的识别[J].计量技术,1983(4). |
| 作者姓名： | 程维中 |
| 作者单位： | 杭州市计量所 |
| 摘 要： | 应用平晶检查精密零件表面状况,特别用来确定表面的平面度误差是极其普遍的。平晶检验零件的理论基础是薄板干涉原理。通常检验时,光线大致垂直地照射被测零件表面,即折射角i≈0,因而光程差近似公式为: |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |
|
||||||||||||||||||||
|
||||||||||||||||||||
|
||||||||||||||||||||
|
|
|
|
| 设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏 |
|
Copyright©北京勤云科技发展有限公司 京ICP备09084417号-23 |
