首页 | 官方网站   微博 | 高级检索  
     

键合线弧高度对键合拉力的影响分析
引用本文:沈海军,刘新宁,景为平,孙海燕. 键合线弧高度对键合拉力的影响分析[J]. 电子与封装, 2010, 10(1): 1-3
作者姓名:沈海军  刘新宁  景为平  孙海燕
作者单位:东南大学,南京210096;南通富士通微电子股份有限公司,南通,226006;东南大学,南京,210096;南通大学江苏省专用集成电路设计重点实验室,南通,226019;东南大学,南京210096;南通大学江苏省专用集成电路设计重点实验室,南通,226019
摘    要:在集成电路封装的质量控制中,键合拉力的地位非常重要。作为键合质量好坏的主要判定基准之一,影响键合拉力的因素有很多,包括键合工艺参数、焊线材料类型、拉力测试吊钩的测试位置、焊线线径以及线弧的长度和高度等。主要讨论在键合线弧投影长度不变的情况下,线弧高度的变化对键合拉力产生的影响。通过对不同线弧高度条件下测得的拉力数据进行整理分析,结果表明:键合线弧越高,拉力就越大;反之,拉力则越小。这为集成电路组装的正常量产过程中,工程技术人员对于键合线弧整体高度的合理有效控制及键合拉力规范的合理定义提供了参考依据。

关 键 词:集成电路封装  键合拉力  线弧高度  键合

The Analysis of Influence on Different Loop Height of Wire Bond
SHEN Hai-jun,LIU Xin-ning,JING Wei-ping,SUN Hai-yan. The Analysis of Influence on Different Loop Height of Wire Bond[J]. Electronics & Packaging, 2010, 10(1): 1-3
Authors:SHEN Hai-jun  LIU Xin-ning  JING Wei-ping  SUN Hai-yan
Affiliation:1.Southeast University;Nanjing 210096;China;2.Jiangsu Province Key Lab of Nantong University;Nantong 226019;3.Nantong Fujitsu Microelectronics Co.;Ltd;Nantong 226006;China
Abstract:Wire pull test play an important role in the quality control of IC assembly.As one of the main assess-able data for wire bond quality.There are many factors affecting the wire pull,including wire bond process parameters,wire material type,the test position of wire pull test hook,wire diameter along with loop length and loop height,etc.This paper mainly discussed the influence of wire pull based on the wire bond loop height changed with the loop projection length not changed.By analyzing the wire pull data o...
Keywords:IC assembly  wire pull  loop height  wire bond  
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司    京ICP备09084417号-23

京公网安备 11010802026262号