加速寿命试验数据的快速图解处理法

元件、设备及系统的可靠性越高,寿命越长,其寿命分布及可靠性参数越难获得,因此只能用加速寿命试验(ALT)才能解决这一问题。本文介绍一种用逆幂律数据处理的方法,具体地用于处理一种塑料电容器的ALT数据。该方法也适用于一般绝缘材料或元器件的绝缘试验数据的处理。