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| 基于单片机的频率特性测试仪设计 | |
| 引用本文： | 韩忠华,马斌,王石,王长涛. 基于单片机的频率特性测试仪设计[J]. 电子产品世界, 2010, 17(6): 29-30,36. DOI: 10.3969/j.issn.1005-5517.2010.05.007 |
| 作者姓名： | 韩忠华 马斌 王石 王长涛 |
| 作者单位： | 沈阳建筑大学信息学院,辽宁沈阳,110168 |
| 摘 要： | 本文介绍了基于DDS技术的频率特性测试仪的设计方法。在设计中扫频信号源采用DDS芯片AD9851实现,以单片机AT89C52为控制核心,控制整个系统协调工作并实时对所测数据进行处理,LCD显示幅频特性和相频特性曲线,实现了系统的小型化和全数字化。 |
| 关 键 词： | 幅频特性 相频特性 单片机 测试仪 |
Design of Frequency Characteristic Tester Based on MPU |
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| Abstract: | |
| Keywords: | DDS |
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