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| 一种修正子孔径拼接中系统误差的方法 | |
| 引用本文： | 周游,王青,刘世杰.一种修正子孔径拼接中系统误差的方法[J].激光与光电子学进展,2014,51(5):51202-113. |
| 作者姓名： | 周游 王青 刘世杰 |
| 作者单位： | 周游:中国科学院上海光学精密机械研究所强激光材料重点实验室, 上海 201800 王青:南京理工大学电子工程与光电技术学院, 江苏 南京 210094 刘世杰:中国科学院上海光学精密机械研究所强激光材料重点实验室, 上海 201800 |
| 基金项目： | 国家自然科学基金（11104295） |
| 摘 要： | 通过对子孔径拼接中系统误差放大效应的分析研究,提出一种修正由干涉仪参考平晶引入的系统误差的方法。该方法只需利用三面互检获取参考平晶在拼接轴上(水平和垂直方向)的面形数据,再用该数据构建参考平晶的面形误差修正波面,即运用Zernike多项式(离焦和像散项)对误差修正波面进行低阶二次曲面的拟合,并在子孔径拼接测量中进行实时修正。实验证明,该方法能够消除由干涉仪参考平晶所引起的系统误差对拼接的影响,有效提高拼接波面的精度。 |
| 关 键 词： | 子孔径拼接 系统误差 三面互检 Zernike多项式拟合 |
| 收稿时间： | 2013/12/19 |
A Method to Modify Systematic Errors in the Stitching |
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| Zhou You;Wang Qing;Liu Shijie.A Method to Modify Systematic Errors in the Stitching[J].Laser & Optoelectronics Progress,2014,51(5):51202-113. | |
| Authors: | Zhou You;Wang Qing;Liu Shijie |
| Affiliation: | Zhou You;Wang Qing;Liu Shijie;Key Laboratory of High Power Laser Materials, Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics, Chinese Academy of Science;School of Electronic and Optical Technology, Nanjing University of Science and Technology; |
| Abstract: | |
| Keywords: | sub-aperture stitching system errors three mutual inspection Zernike polynomial fitting |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |
