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快电子电路的光测法
引用本文:朱维和.快电子电路的光测法[J].大自然探索,1988(4).
作者姓名:朱维和
摘    要:超快集成电路产生的电脉冲不能用普通方法测量,这已成为工程师们发展电路的问题.现在AT&T贝尔实验室已找到了解决办法.他们发明了一种分辨率为0.3微微秒的电子光学测量方法,这比现在

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