HL-2A装置破裂放电期间逃逸电子产生过程的实验观测 |
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引用本文: | 杨青巍,杨进蔚,宋先瑛,崔正英,李伟,周航宇,丁玄同.HL-2A装置破裂放电期间逃逸电子产生过程的实验观测[J].核工业西南物理研究院年报,2004(1):5-6. |
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作者姓名: | 杨青巍 杨进蔚 宋先瑛 崔正英 李伟 周航宇 丁玄同 |
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摘 要: | 大破裂放电不仅会在第一壁和偏滤器靶板上产生巨大的热负载沉淀和强烈的电磁力,而且会产生强烈的逃逸电子。逃逸电子的产生给托卡马克的运行造成很大的危害。它的巨大能量可以使装置的某些部份被击穿。等离子体电流熄灭时,环电压有明显上升。因为,等离子体电流的快速下降能引起感应电压,其值能通过环电压线圈测到。
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关 键 词: | 逃逸电子 HL-2A装置 破裂放电期间 实验观测 偏滤器靶板 |
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