首页 | 官方网站   微博 | 高级检索  
     

HgCdTe材料费密能级随杂质浓度的变化
引用本文:郑雷,胡燮荣.HgCdTe材料费密能级随杂质浓度的变化[J].红外与毫米波学报,1987,6(3).
作者姓名:郑雷  胡燮荣
作者单位:上海新跃仪表厂 (郑雷),山东大学红外遥感研究室(胡燮荣)
摘    要:分析了HgCdTe材料中杂质浓度与费密能级的关系。根据Kane三能带模型和费密-狄拉克统计,直接利用电中性条件n-P_1-P_-P_3=N计算了在不同杂质浓度下包括高浓度简并状态下的费密能级位置,式中n、P_1、P_2、P_3分别为电子、重空穴、轻空穴、自旋分裂价带空穴的浓度,N为电离的杂质浓度,在具体计算中假设杂质全部电离。最后讨论了Burstein-Moss效应及其在应用中的影响,由直接跃迁准动量守恒及Kane的非抛物性能带,计算了光电导响应截止波长对杂质浓度的依赖关系。

本文献已被 CNKI 等数据库收录!
点击此处可从《红外与毫米波学报》浏览原始摘要信息
点击此处可从《红外与毫米波学报》下载全文
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司    京ICP备09084417号-23

京公网安备 11010802026262号