| 提高线阵CCD大尺寸自动测量系统精度研究 |
| |
| 引用本文： | 李开端,张青臣,赵育良.提高线阵CCD大尺寸自动测量系统精度研究[J].计算机测量与控制,2002,10(1):21-22. |
| |
| 作者姓名： | 李开端 张青臣 赵育良 |
| |
| 作者单位： | 海军航空工程学院,青岛分院,山东,青岛,266041 |
| |
| 摘 要： | 利用光学成像技术与线阵CCD信号串行输出相结合测量物体尺寸，存在着光学系统衍射引起的像边缘不确定带来的测量误差。而传统的采用二值化电路并不能完全解决这个问题。文章在分析传统测量原理基础上提出了新的CCD输出信号的处理方法，并给出了软件框图。
|
| 关 键 词： | 线阵电荷耦合器件 CCD 大尺寸自动测量系统 精度 |
| 文章编号： | 1671-4598(2002)01-0021-02 |
| 修稿时间： | 2001年6月4日 |
Study to Raise the Systematic Precision of the Linear Array CCD Size Automatic Measurement |
| |
| LI Kai duan,ZHANG Qing chen,ZHAO Yu liang.Study to Raise the Systematic Precision of the Linear Array CCD Size Automatic Measurement[J].Computer Measurement & Control,2002,10(1):21-22. |
| |
| Authors: | LI Kai duan ZHANG Qing chen ZHAO Yu liang |
| |
| Abstract: | Using optics imaging technology and the linear array CCD series outbound signal to measure object size ,have the measurement error due to optical systematic diffraction arousing the indetermination of picture edge .Traditional two-value circuit can not solve this problem completely. A new processing technology of CCD export signal is presented and software scheme is given. |
| |
| Keywords: | linear array CCD measurement processing technology error |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ |
