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相位噪声测量在时钟偏斜测试中的应用
引用本文:王小强. 相位噪声测量在时钟偏斜测试中的应用[J]. 微电子学, 2013, 43(5)
作者姓名:王小强
作者单位:工业和信息化部电子第五研究所,广州,510610
摘    要:随着系统数据速率的提高,时钟抖动分析的需求也在与日俱增.在高速数据链路中,时钟分配器的时钟偏斜会影响系统的整体性能.分析了相位噪声和时钟抖动的对应关系,通过时域到频域的转换,实现了时钟偏斜参数的高精度测量.以一款时钟分配器为例,进行了实际测试验证.

关 键 词:时钟偏斜  相位噪声  时钟抖动

Application of Phase Noise Measurement to Clock Skew Testing
WANG Xiaoqiang. Application of Phase Noise Measurement to Clock Skew Testing[J]. Microelectronics, 2013, 43(5)
Authors:WANG Xiaoqiang
Abstract:
Keywords:Clock skew  Phase noise  Clock jitter
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