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高速PCB的寿命评价方法
引用本文:曾福林,安维,李冀星,陈佳,任英杰,韩梦娜,雷恒鑫,金晨迪. 高速PCB的寿命评价方法[J]. 电子工艺技术, 2022, 43(3): 182-186. DOI: 10.14176/j.issn.1001-3474.2022.03.016
作者姓名:曾福林  安维  李冀星  陈佳  任英杰  韩梦娜  雷恒鑫  金晨迪
作者单位:中兴通讯股份有限公司,广东 深圳 518057,浙江华正新材料股份有限公司,浙江 杭州 311121
摘    要:

关 键 词:寿命  老化  PCB

Life Evaluation Methods of High Speed PCB
ZENG Fulin,AN Wei,LI Jixing,CHEN Jia,REN Yingjie,HAN Mengna,LEI Hengxin,JIN Chendi. Life Evaluation Methods of High Speed PCB[J]. Electronics Process Technology, 2022, 43(3): 182-186. DOI: 10.14176/j.issn.1001-3474.2022.03.016
Authors:ZENG Fulin  AN Wei  LI Jixing  CHEN Jia  REN Yingjie  HAN Mengna  LEI Hengxin  JIN Chendi
Abstract:
Keywords:
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