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| 纯元素标识x射线强度因子的电压依赖关系 | |
| 作者姓名： | 徐力 吴自勤 |
| 作者单位： | 中国科大结构分析开放实验室，中国科大结构分析开放实验室 |
| 摘 要： | 利用x射线能谱仪进行无标样定量分析时,经常使用纯元素的标识x射线强度因子。随着电子探针使用的加速电压向低电压方向发展(如分析硅上的含硅化合物)和低压扫描电镜的发展,有必要在广泛的加速电压范围对强度因子的计算进行检验。Russ提出的无标样定量分析中给出了计算强度因子的方法,吴自勤等利用修正 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |
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