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纳米样板的制备及其精度分析
引用本文:景蔚萱,赵惠英,蒋庄德.纳米样板的制备及其精度分析[J].计量学报,2004,25(1):6-10,42.
作者姓名:景蔚萱  赵惠英  蒋庄德
作者单位:西安交通大学精密工程研究所,陕西,西安,710049
基金项目:高等学校骨干教师资助计划项目,国家教育部博士点基金项目(1999069821)
摘    要:介绍了纳米样板的研究现状及制备工艺,特别对扫描探针显微镜(SPM)表面局域氧化反应工艺进行了详述;分析了原子力显微镜(AFM)探针诱导局域氧化工艺的原理及其影响参数,原理为高度局域化的电化学反应,影响参数包括探针上所施加的电压、扫描速度、探针曲率半径、相对湿度以及氧化物厚度等;用该方法分别制备了5条栅线和7条栅线的一维纳米结构样板,并对7条栅线的纳米结构样板的精度和不确定度影响因素进行了分析。

关 键 词:计量学  原子力显微镜  纳米样板  探针诱导阳极氧化  线宽  直线度  平行度  不确定度
文章编号:1000-1158(2004)01-0006-06

Fabrication and Precision Analysis of Nano-scale Sample-plate
JING Wei-xuan,ZHAO Hui-ying,JIANG Zhuang-de.Fabrication and Precision Analysis of Nano-scale Sample-plate[J].Acta Metrologica Sinica,2004,25(1):6-10,42.
Authors:JING Wei-xuan  ZHAO Hui-ying  JIANG Zhuang-de
Abstract:The research situation and fabrication techniques of nano-scale sample-plate are introduced, and the local surface oxidation with SPM is discussed in detail. The principle and parameters of tip-induced local surface oxidation with AFM are presented. 1D nano-scale sample-plates with 5 and 7 grating lines are fabricated with this technique, respectively. The fabrication precision of the 1D nano-scale sample-plate with 7 grating lines, such as critical dimensions, linearity as well as parallelism of the grating lines are analyzed. Besides, the influencing factors of uncertainty of nano-scale sample-plates are investigated also.
Keywords:Metrology  Atomic force microscope (AFM)  Nano-scale sample-plate  Tip-induced anodization oxidation  Critical dimension  Linearity  Parallelism  Uncertainty
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