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激光/微波光电导衰减技术研究半绝缘GaAs复合寿命的分布
引用本文:屠海令,张峰翊,王永鸿,钱嘉裕,马碧春. 激光/微波光电导衰减技术研究半绝缘GaAs复合寿命的分布[J]. 稀有金属, 1998, 22(6): 450-451
作者姓名:屠海令  张峰翊  王永鸿  钱嘉裕  马碧春
作者单位:北京有色金属研究总院,北京,100088
摘    要:采用非接触式激光/微波光电导衰减技术(LMPCD)对Φ50.8mm双面抛光的半绝缘GaAs晶片的复合寿命进行了无损伤检测,得到了有效载流子寿命沿晶片直径的径向分布曲线。结果表明,复合寿命为几百纳秒,在径向呈“M”型分布,和半绝缘GaAs晶片中EPD的“W”型分布相反。在考虑了位错密度和掺杂浓度对寿命的影响的基础上,对GaAs晶片的寿命进行了讨论。

关 键 词:复合寿命  半绝缘GaAs  激光/微波光电导衰减

Study on Recombination Lifetime Distribution of SI-GaAs by Laser/Microwave Photoconductance Decay Technique
Tu Hailing,Zhang Fengyi,Wang Yonghong,Qian Jiayu,Ma Bichun. Study on Recombination Lifetime Distribution of SI-GaAs by Laser/Microwave Photoconductance Decay Technique[J]. Chinese Journal of Rare Metals, 1998, 22(6): 450-451
Authors:Tu Hailing  Zhang Fengyi  Wang Yonghong  Qian Jiayu  Ma Bichun
Abstract:
Keywords:Recombination lifetime   SI GaAs   Laser/Microwave   Photoconductance   Decay
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