GPT一1型光栅偏心调整检验仪 |
| |
引用本文: | 何平安,余长明,杨晋陵,李以赫.GPT一1型光栅偏心调整检验仪[J].仪器仪表学报,2003,24(2):171-174,178. |
| |
作者姓名: | 何平安 余长明 杨晋陵 李以赫 |
| |
摘 要: | 从光栅副形成莫尔条纹的特性方程出发,分析了对电子经纬仪的光栅副偏心调整的四种方法:莫尔条纹调整法、漏缝调整法、基圆调整法和基于李萨茹圆的电调整法。根据实际情况,确定了对光栅偏心调整采用基于CCD图像系统的基圆调整法进行粗调,和基于虚拟数字示波器的精调法相结合的方案,采用曲线拟合和相关法,计算出光栅偏心的大小与方位,并给出了光栅偏心与轴晃的关系,介绍了GPT一1型光栅偏心调整检验仪的组成和功能,最后给出了仪器的调整检验结果。实践表明,GPT一1型光栅偏心调整检验仪为电子经纬仪的装配、光栅偏心调整和偏心检验起到了重要的指导作用,大大地提高了生产效率。
|
关 键 词: | 光栅 莫尔条纹 偏心调整 电子经纬仪 |
本文献已被 维普 等数据库收录! |
|