| XRD与TEM技术在分析纳米金属晶粒尺寸中的应用 |
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| 引用本文： | 张鑫,刘静,李光强.XRD与TEM技术在分析纳米金属晶粒尺寸中的应用[J].南方金属,2006(3):15-17,27. |
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| 作者姓名： | 张鑫 刘静 李光强 |
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| 作者单位： | 武汉科技大学,湖北,武汉,430081 |
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| 摘 要： | 介绍利用（α-石英作为标样来消除X射线衍射过程中仪器因素引起的X射线衍射峰宽化的方法，给出了（α-石英（110）和（223）衍射的仪器因子校正曲线．利用该曲线计算出了纳米不锈钢粉末烧结试样的平均晶粒度．通过和透射电镜观察统计的晶粒度进行比较，发现两者最终得到的晶粒度仅相差5％左右，说明使用这两种方法都能较为准确的计算出纳米材料的晶粒度．
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| 关 键 词： | 平均晶粒度 半高宽 纳米不锈钢 X射线衍射 透射电镜 |
| 文章编号： | 1009-9700（2006）03-0015-03 |
| 收稿时间： | 2006-03-10 |
| 修稿时间： | 2006-03-10 |
Determining grain size of nano-crystalline stainless steel by XRD and TEM |
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| ZHANG Xin,LIU Jing,LI Guang-qiang.Determining grain size of nano-crystalline stainless steel by XRD and TEM[J].Southern Metals,2006(3):15-17,27. |
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| Authors: | ZHANG Xin LIU Jing LI Guang-qiang |
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| Affiliation: | School of Materials and Metallurgy, Wuhan University of Science and Technology, Wuhan 430081, Hubei |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | mean grain size half-high width nano-erystalline stainless steel XRD TEM |
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