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纯锡中微量杂质元素的光谱分析
引用本文:孙树祥,何振宇.纯锡中微量杂质元素的光谱分析[J].江苏冶金,1987(6).
作者姓名:孙树祥  何振宇
作者单位:国家物资局金属再生利用研究所,国家物资局金属再生利用研究所
摘    要:1.概述纯锡中微量杂质的分析。一般用棒状法和粉末法。为了配合废料回收所得纯锡的产品分析,我们选用了SnO_2粉末法,加入碳酸锂作为缓冲剂,直流电弧阳极激发试样,测定纯锡中Cu、Pb、Bi、Fe、Sb、As六个杂质元素。测定下限在0.02—0.00032%之间,相对标准偏差在10%以下。

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