纯锡中微量杂质元素的光谱分析 |
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引用本文: | 孙树祥,何振宇.纯锡中微量杂质元素的光谱分析[J].江苏冶金,1987(6). |
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作者姓名: | 孙树祥 何振宇 |
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作者单位: | 国家物资局金属再生利用研究所,国家物资局金属再生利用研究所 |
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摘 要: | 1.概述纯锡中微量杂质的分析。一般用棒状法和粉末法。为了配合废料回收所得纯锡的产品分析,我们选用了SnO_2粉末法,加入碳酸锂作为缓冲剂,直流电弧阳极激发试样,测定纯锡中Cu、Pb、Bi、Fe、Sb、As六个杂质元素。测定下限在0.02—0.00032%之间,相对标准偏差在10%以下。
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