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SRAM型FPGA抗单粒子翻转技术研究
引用本文:郑晓云,陶淑苹,冯汝鹏,王绍举.SRAM型FPGA抗单粒子翻转技术研究[J].电子测量技术,2015,38(1).
作者姓名:郑晓云  陶淑苹  冯汝鹏  王绍举
作者单位:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 长春130033;小卫星技术国家地方联合工程研究中心 长春130033
基金项目:国家863计划(2012AA121502)项目
摘    要:随着CMOS电路的高速发展以及SRAM型FPGA在航天领域的不断应用,空间辐照的影响,特别是单粒子效应对FPGA的影响尤为显著.为了提高FPGA在空间环境的可靠性,介绍了几种抗单粒子翻转方法,并对其进行了比较分析,实现了SRAM型FPGA抗单粒子翻转的系统设计,采用定时刷新的方法抑制翻转位累加,同时通过故障注入的方式对系统进行了实验测试,结果表明系统设计方法有效可行,既不中断FPGA正常工作,又可以及时纠正翻转位,为SRAM型FPGA在航天领域中应用提供可靠性保障.

关 键 词:SRAM型FPGA  单粒子翻转  刷新  空间辐照

Technology research on correcting single-event upsets in SRAM FPGA
Zheng Xiaoyun,Tao Shuping,Feng Rupeng,Wang Shaoju.Technology research on correcting single-event upsets in SRAM FPGA[J].Electronic Measurement Technology,2015,38(1).
Authors:Zheng Xiaoyun  Tao Shuping  Feng Rupeng  Wang Shaoju
Abstract:
Keywords:SRAM FPGA  single event upsets  scrubbing  space radiation
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