| 可编程CMEMS振荡器Si504测试与分析 |
| |
| 引用本文： | 孙晓伟,张瑞峰,王少阳,杨庆. 可编程CMEMS振荡器Si504测试与分析[J]. 电子测量技术, 2015, 38(1) |
| |
| 作者姓名： | 孙晓伟 张瑞峰 王少阳 杨庆 |
| |
| 作者单位： | 天津大学电子信息工程学院 天津300072 |
| |
| 摘 要： | 美国芯科实验室(Silicon Labs公司)生产的Si50x系列振荡器,采用专利的CMEMS技术将CMOS振荡器和MEMS谐振器集成到单晶片上,保证10年以上工作寿命下的频率稳定性.选取Si504完全可编程振荡器进行内部结构分析,通过单线C1接口修改振荡器的工作模式,配置选项和输出频率.完成了设备驱动电路的设计,采用C语言编程对芯片进行功能测试和结果分析,验证了CMEMS振荡器的实时可编程性及在商业温度范围下的频率稳定性.在Si504低抖动模式下,通过对FPGA生成的伪随机序列码进行眼图测试分析,说明Si50x可应用于USB2.0(480Mps)作为参考时钟源.
|
| 关 键 词： | MEMS振荡器 CMEMS技术 单线C1接口 |
Test and analysis of programmable CMEMS oscillator Si504 |
| |
| Sun Xiaowei,Zhang Ruifeng,Wang Shaoyang,Yang Qing. Test and analysis of programmable CMEMS oscillator Si504[J]. Electronic Measurement Technology, 2015, 38(1) |
| |
| Authors: | Sun Xiaowei Zhang Ruifeng Wang Shaoyang Yang Qing |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | MEMS oscillator CMEMS technology single wire C1 interface |
| 本文献已被 万方数据 等数据库收录！ |
|
